Microssonda eletrônica

Uma microssonda eletrônica (EMP), também conhecida como microanalisador de sonda eletrônica (EPMA) ou analisador de microssonda eletrônica (EMPA), é uma ferramenta analítica usada para determinar de forma não destrutiva a composição química de pequenos volumes de materiais sólidos. Funciona de forma semelhante a um microscópio eletrônico de varredura: a amostra é bombardeada com um feixe de elétrons, emitindo raios X em comprimentos de onda característicos dos elementos que estão sendo analisados. Isto permite que as abundâncias de elementos presentes em pequenos volumes de amostra (normalmente 10-30 micrômetros cúbicos ou menos) sejam determinadas,^[2] quando uma tensão de aceleração convencional de 15-20 kV é usada.^[3] As concentrações de elementos, desde o lítio ao plutônio, podem ser medidas em níveis tão baixos como 100 partes por milhão (ppm), dependendo do material, embora com cuidado, sejam possíveis níveis abaixo de 10 ppm.^[4] A capacidade de quantificar o lítio por EPMA tornou-se realidade em 2008.^[5]

Um microanalisador de sonda eletrônica "Microscan" da Cambridge Scientific Instrument Company baseado em um projeto de Peter Duncumb.^[1] Este modelo está alojado no Museu de Tecnologia de Cambridge

Referências

↑ Cosslett, V. E., and P. Duncumb. "Micro-analysis by a flying-spot X-ray method." Nature 177, no. 4521 (1956): 1172-1173.
↑ Wittry, David B. (1958). "Electron Probe Microanalyzer", US Patent No 2916621^{[ligação inativa]}, Washington, DC: U.S. Patent and Trademark Office
↑ Merlet, C.; Llovet, X. (2012). «Uncertainty and capability of quantitative EPMA at low voltage–A review». IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 32 (2). 012016 páginas. doi:10.1088/1757-899X/32/1/012016
↑ Donovan, J.; Lowers, H.; Rusk, B. (2011). «Improved electron probe microanalysis of trace elements in quartz» (PDF). American Mineralogist. 96 (2–3): 274–282. Bibcode:2011AmMin..96..274D. doi:10.2138/am.2011.3631 ^{[ligação inativa]}
↑ Fukushima, S.; Kimura, T.; Ogiwara, T.; Tsukamoto, K.; Tazawa, T.; Tanuma, S. (2008). «New model ultra-soft X-ray spectrometer for microanalysis». Microchim Acta. 161 (3–4): 399–404. doi:10.1007/s00604-007-0889-6

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[1] Cosslett, V. E., and P. Duncumb. "Micro-analysis by a flying-spot X-ray method." Nature 177, no. 4521 (1956): 1172-1173.

[WittryPatent-2] Wittry, David B. (1958). "Electron Probe Microanalyzer", US Patent No 2916621^{[ligação inativa]}, Washington, DC: U.S. Patent and Trademark Office

[Merlet2012-3] Merlet, C.; Llovet, X. (2012). «Uncertainty and capability of quantitative EPMA at low voltage–A review». IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 32 (2). 012016 páginas. doi:10.1088/1757-899X/32/1/012016

[Donovan2011-4] Donovan, J.; Lowers, H.; Rusk, B. (2011). «Improved electron probe microanalysis of trace elements in quartz» (PDF). American Mineralogist. 96 (2–3): 274–282. Bibcode:2011AmMin..96..274D. doi:10.2138/am.2011.3631 ^{[ligação inativa]}

[Fukushima2008-5] Fukushima, S.; Kimura, T.; Ogiwara, T.; Tsukamoto, K.; Tazawa, T.; Tanuma, S. (2008). «New model ultra-soft X-ray spectrometer for microanalysis». Microchim Acta. 161 (3–4): 399–404. doi:10.1007/s00604-007-0889-6

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